少子壽命測試儀PCB抄板技術(shù)開發(fā)服務(wù)
來源:http://yvktnlc.cn 作者:站長 時間:2012-06-12 09:47:57
龍人抄板設(shè)計的少子壽命測試儀不僅適用于硅片少子壽命的測量,更適用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到6000μs,硅料電阻率下限達0.1Ω.cm(可擴展至0.01Ω.cm)。測試過程全程動態(tài)曲線監(jiān)控,少子壽命測量可靈敏地反映單晶體重金屬污染及陷阱效應(yīng)表面復合效應(yīng)等缺陷情況.
我們已通過反向工程掌握該產(chǎn)品的技術(shù)資料,并可提供該產(chǎn)品的的PCB設(shè)計、PCB抄板、芯片解密、樣機制作、樣機調(diào)試等方面的服務(wù),滿足客戶的需求。同時,我們會根據(jù)市場需求的變化和產(chǎn)品的更新?lián)Q代,提升該產(chǎn)品的功能升級和擴展,為廣大客戶提供定制化服務(wù),我們期待與廣大客戶真誠合作。
使用范圍
用于硅、鍺單晶的少數(shù)載流子壽命測量,除需要有一個測量平面外,對樣塊體形無嚴格要求,可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內(nèi)重金屬雜質(zhì)污染及缺陷存在的情況,是單晶質(zhì)量的重要檢測項目。
產(chǎn)品特點
u 測試范圍廣:包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅 片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命測量。
u 主要應(yīng)用于硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片的進廠、出廠檢查,生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。
u 適用于低阻硅料少子壽命的測量,電阻率測量范圍可達ρ>0.1Ω?cm(可擴展至0.01Ω?cm),完全解決了微波光電導無法檢測低阻單晶硅的問題。
u 全程監(jiān)控動態(tài)測試過程,避免了微波光電導(u-PCD)無法觀測晶體硅陷阱效應(yīng),表面復合效應(yīng)缺陷的問題。
u 貫穿深度大,達500微米,相比微波光電導的30微米的貫穿深度,真正體現(xiàn)了少子的體壽命的測量,避免了表面復合效應(yīng)的干擾。
u 專業(yè)定制樣品架最大程度地滿足了原生多晶硅料生產(chǎn)企業(yè)測試多種形狀的硅材料少子壽命的要求,包括硅芯、檢磷棒、檢硼棒等。
u 性價比高,價格遠低于國外國外少子壽命測試儀產(chǎn)品,極大程度地降低了企業(yè)的測試成本。
技術(shù)參數(shù)
測量范圍 硅晶體電阻率:0.005-50000Ω•cm
鍺單晶: 0.1-100Ω•cm
可測材料 硅半導體材料 - 硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅塊、硅片等,鍺半導體材料
少子壽命 1μs-6000μs
可測硅料電阻率 ≥0.1Ω.cm
激光波長 1.07μm
貫穿深度 500μm
供電電源 ~220V 50Hz 功耗<50W
推薦使用環(huán)境 溫度:23±2℃ 相對溫度:≤65%