SMT加工阻抗分析儀
來源:龍人計算機研究所 作者:站長 時間:2011-06-23 09:20:01
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阻抗分析儀特點:
1臺儀器實現(xiàn)LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續(xù)測量和高速檢查
LCR模式下最快1.5ms(1kHz),0.5ms(100kHz)的高速測量
基本精度±0.08%的高精度測量
適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量,電感器(線圈、變壓器)的DCR和L-Q的測量
分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量
阻抗分析儀參數(shù):
測量模式 | LCR(LCR測量),分析儀(掃描測量),連續(xù)測量 |
測量參數(shù) | Z、Y、θ、Rs(ESR)、Rp、Rdc(直流電阻)、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D(tanδ)、Q |
測量量程 | 100mΩ~100MΩ,12檔量程(所有參數(shù)由Z確定) |
顯示范圍 | Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp:±(0.000000[單位]~9.999999G[單位],僅Z和Y顯示絕對值 θ:±(0.000°~999.999°),D:±(0.000000~9.999999) Q:±(0.00~99999.99),△%:±(0.0000%~999.9999%) |
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